Microscópio com varredura de sensor LEAP 5000 series

para pesquisa3D

microscópio de sonda atómica 3D com desempenho analítico sub-nanómico 3D inigualável O LEAP 5000 é o microscópio de sonda atómica de ponta da CAMECA, oferecendo uma eficiência de deteção superior numa grande variedade de metais, semicondutores e isoladores: mais de 40% de átomos extra detectados por nm3 analisado. O LEAP 5000 recolhe informações à escala nanométrica a partir de um conjunto de dados à escala microscópica em apenas algumas horas e proporciona uma maior exatidão da composição, precisão e limites de deteção, um maior rendimento da amostra, juntamente com um maior rendimento e reprodutibilidade final. A eficiência de deteção optimizada proporciona uma sensibilidade sem paralelo Grande campo de visão e uniformidade de deteção - a derradeira resolução espacial 3D Excelentes capacidades de deteção multi-hit para as medições de composição mais precisas Taxa de repetição rápida e variável para aquisição de dados a uma velocidade ultra-elevada Plataforma robusta e ergonómica para maior facilidade de utilização e redução do tempo de conhecimento Monitorização em tempo real para garantir dados da mais alta qualidade em cada medição Os algoritmos avançados de controlo do laser proporcionam rendimentos de amostra mensuravelmente melhorados A família LEAP 5000 O LEAP 5000 XS combina a nova tecnologia de trajetória de voo com um desempenho melhorado do detetor para oferecer um campo de visão melhorado, ao mesmo tempo que alcança uma eficiência de deteção sem precedentes ~ 80%, a mais elevada de qualquer técnica analítica deste tipo! Para além disso, o módulo avançado de impulsos laser, capaz de oferecer taxas de repetição até 2 MHz, faz do LEAP 5000 XS a última palavra em eficiência e produtividade.