Analisador de impedância TH2851-015
de bancadamultiparâmetroscom touch screen

analisador de impedância
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Características

Mensurando
de impedância
Configuração
de bancada
Outras características
multiparâmetros, com touch screen

Descrição

Características ■ Frequência de teste: 10Hz-15MHz ■ Alta precisão: utilizando tecnologia de ponte de equilíbrio automático, configuração de teste de quatro pares terminais ■ Alta estabilidade e consistência ■ Alta velocidade: a velocidade de teste mais rápida até 5ms ■ Alta resolução: 10.ecrã táctil capacitivo de 1 polegada, resolução 1280*800 ■ Três métodos de teste: teste pontual, teste de lista e teste gráfico ■ 1601 função de digitalização de lista multiparâmetros de pontos ■ Medição em quatro parâmetros ■ Função de digitalização gráfica de 4 canais, cada canal pode exibir 4 curvas, 16 tipos de modos de exibição em tela dividida para canais e curvas ■ Separação poderosa: 10 graus de ordenação no modo LCR ■ Modo de digitalização gráfica, cada curva é classificada individualmente ■ Alta compatibilidade: Conjunto de instruções SCPI de suporte, compatível com KEYSIGHT E4990A, E4980A, E4980AL, HP4284A Aplicações ■ Componente passiva: Estimativa de parâmetros de impedância e análise de desempenho de condensador, indutor, núcleo magnético, resistência, dispositivos piezoelétricos, transformadores, componentes de chips e componentes de rede ■ Componente semicondutor Teste de parâmetros parasitas e análise das características dos varactores do circuito integrado CVDC do condutor LED Análise de parâmetros parasíticos de transistores ou circuito integrado ■ Outros componentes Avaliação da impedância de placas de circuito impresso, relés, interruptores, cabos, baterias ■ Material dieléctrico Constante dieléctrica e avaliação do ângulo de perda de plásticos, cerâmicas e outros materiais ■ Materiais magnéticos Avaliação da permeabilidade magnética e do ângulo de perda de ferrite, corpo amorfo e outros materiais magnéticos ■ Materiais semicondutores Constante dieléctrica, condutividade eléctrica e características C-V dos materiais semicondutores

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