Profilômetro com estilete CP200

O Stylus Nano Profiler CP200 é um instrumento de medição por contacto de ultra-precisão para a medição da rugosidade da superfície e do perfil microscópico, como a altura de micro-nano degraus e a espessura da película. O CP200 utiliza um sensor de deslocamento com resolução sub-angstrom, aquisição de sinal de ruído ultra-baixo, controlo de movimento ultra-fino e tecnologia de algoritmos de calibração com excelente desempenho. A sua força de contacto é extremamente pequena e não existem requisitos especiais para medir as características de reflexão da superfície, os tipos de material e a dureza do material, pelo que é amplamente utilizado para medir a superfície microscópica nas indústrias de semicondutores e semicondutores compostos, LED de alto brilho, energia solar, sistemas microelectromecânicos MEMS, ecrãs tácteis, equipamento automóvel e médico.