Aparelho de inspeção de semicondutores

A inspeção de dispositivos semicondutores é uma etapa crucial no processo de produção de microeletrónica. Envolve uma inspeção altamente precisa de defeitos e de múltiplas fases de produção, registando e produzindo os resultados e gerando informações relacionadas com a garantia de qualidade que podem ser acedidas e utilizadas imediatamente para melhorar o rendimento global. A CIMS oferece soluções de inspeção automatizada para wafers com padrões, bem como vários produtos de fan-out e fan-in para WLP (wafer-leve-packaging) e PLP (panel-level-packaging). Os AOIs da CIMS para microeletrónica estão a ajudar os nossos clientes a aumentar drasticamente o rendimento do seu processo de fabrico, bem como a melhorar a qualidade do produto final. Opções de metrologia e inspeção adicional As opções de metrologia complementar CIMS foram concebidas para melhorar ainda mais as capacidades de inspeção de dispositivos semicondutores. Estas opções podem ser integradas com o equipamento CIMS, oferecendo uma nova camada de garantia de qualidade aos nossos clientes. As opções complementares CIMS incluem capacidades únicas de metrologia 2D e 3D que permitem realizar medições avançadas durante o ciclo normal de inspeção. Isto elimina a necessidade de sistemas de metrologia dedicados offline e encurta o ciclo de feedback de QA.