Equipamento de teste automático S500 BTE

para circuitos impressos

O Equipamento de Teste de Bancada S500 (BTE) é personalizado para testar a Unidade Substituível na Linha (LRU) para determinar a Unidade Substituível no Nível Mais Baixo (LLRU) com defeito. Quando uma LLRU com falha é descoberta, um programa de aplicação separado projetado especificamente para a LLRU é executado para isolar ainda mais a falha. O S500 pode testar diagnosticamente Placas de Circuito Impresso (PCBs) para um grupo de ambiguidade especificado através do uso de sonda de ponto de teste assistida pelo operador. O sistema de teste S500 também pode exportar dados de teste que serão usados por um BTE de diagnóstico separado, como o sistema de teste PinPoint. A base S500 inclui uma estrutura de rack de 19 polegadas disponível comercialmente, incluindo um PC industrial, extensões de interconexão de componentes periféricos para chassis de Instrumentação (PXI) para recursos de teste da National Instruments (NI), fontes de alimentação e um receptor de cabeça de teste. O software e os controladores de sistema necessários para automatizar o processo de teste e avaliar os resultados são armazenados no PC interno. Os instrumentos são controlados por programas de aplicação para aplicar sinais e fazer medições na unidade sob teste (UUT). Todos os sinais de teste necessários estão disponíveis no painel da cabeça de teste e são conectados à UUT usando um adaptador de teste de interface (ITA). Os programas de aplicação são acessados e executados através do uso do Software Executivo de Diagnóstico (ES). A interface de usuário ES é uma Interface Gráfica de Usuário (GUI) com menus comuns do tipo Windows OS e funcionalidade com facilidade de entrada para novos usuários.