Sistema de inspeção para detecção de defeitos

com câmeraautomáticopara a indústria de embalagem

Para as empresas de fabrico de bolachas a meio da cadeia e para as empresas de embalagem e ensaio a jusante na cadeia da indústria de semicondutores, é adotado um sistema de deteção paralelo multicanal de campo claro e escuro desenvolvido de forma independente para detetar os defeitos de aspeto das bolachas semicondutoras e dos grãos com gráficos. Vantagens do produto: - Disponível numa variedade de tamanhos Este equipamento pode ser utilizado para bolachas com padrão de 4-8 polegadas - Pode detetar uma variedade de defeitos Detecta defeitos como riscos, colapso posterior, diferença de cor, fissuras, riscos, resíduos de metal e perda de metal - Resolução de alta precisão Resolução do sistema: 0.2-0,8 μ m - Velocidade de deteção rápida Bolacha com padrão: 15 minutos / bolacha quando o número de defeitos é inferior a 200