Sistema de medição de espessura ópticopara waferspara aplicações industriais
Guardar nos favoritos
Comparar
Características
- Grandeza física
- de espessura
- Tecnologia
- óptico
- Produto medido
- para wafers
- Aplicações
- para aplicações industriais, para eletrônica
- Outras características
- de alta precisão, de alta velocidade, de 2 eixos
Descrição
Face às empresas de produção de matérias-primas a montante da cadeia da indústria de semicondutores, o sistema de medição confocal desenvolvido independentemente é utilizado para detectar o tamanho e a planicidade das pastilhas semicondutoras brutas e epitaxiais.
Vantagens do produto:
Vasta gama de aplicações
Utilizada para bolacha original de 4-8 polegadas, substrato e bolacha epitaxial de vários materiais e condições de polimento
Elevada precisão de medição
Gama de espessuras: precisão de medição de 0-1mm: ± 1 μ M precisão de repetição: 0,2 μ m
Curto tempo de medição
Tempo de medição: 30s / PCS (de acordo com a trajectória de detecção do cliente)
---
Catálogos
Não estão disponíveis catálogos para este produto.
Ver todos os catálogos da Farley LaserlabOutros produtos Farley Laserlab
Specialized Products for Semiconductor Industry
Pesquisas relacionadas
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.