Sistema de medição para wafers EPS200RF
para calibraçãomicroscópio

Sistema de medição para wafers - EPS200RF - FORMFACTOR - para calibração / microscópio
Sistema de medição para wafers - EPS200RF - FORMFACTOR - para calibração / microscópio
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Características

Produto medido
para wafers
Aplicações
para calibração
Outras características
microscópio

Descrição

[prisna-wp-translate-show-hide behavior="hide[/prisna-wp-translate-show-hide]Um pacote completo de medição de RF O EPS200RF focado na aplicação é uma solução completa para as melhores medições de RF até 67 GHz. Com base na plataforma do sistema PM8, o pacote EPS200RF inclui todo o hardware, software e acessórios necessários para sondar com confiança dispositivos de RF com almofadas tão pequenas como 25 µm x 35 µm. O EPS200RF é uma solução de sondagem avançada dedicada que vem com tudo o que precisa para alcançar resultados de medição precisos no mais curto espaço de tempo, com a máxima confiança. O sistema incorpora os métodos mais conhecidos de sondagem de RF até 67 GHz, com a capacidade de sondar almofadas tão pequenas como 25 μm x 35 μm e mais. Um design muito rígido e estável do sistema EPS200RF, com estrutura fundida e placa única com suporte de quatro pontos, permite-lhe alcançar uma alta precisão. Uma solução integrada de isolamento de vibrações protege a qualidade do contacto ao longo do tempo de medição. Óptica optimizada, movimento X-Y-Z sem folga dos posicionadores RF, e uma unidade de separação de contacto com excelente repetibilidade 1 μm, permitem a colocação precisa da sonda e a repetibilidade do contacto comparável aos sistemas semi-automatizados. Os cabos de referência da indústria suportam a maior magnitude e estabilidade de fase das medições. Escolha um par de sondas de RF de 40, 50, ou 67 GHz das nossas famílias de sondas Infinity Probe®, |Z| Probe®, ACP e FPC para o melhor desempenho de contacto. Com o software WinCal XE™, recebe métodos patenteados LRRM e LRM+ para a melhor precisão de calibração

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