Sistema de medição para wafers EPS200MMW

microscópio

Uma solução completa para medições de mmW, THz e carga-puxa a 67 GHz e mais. Solução à medida que responde às necessidades de medição de componentes activos e passivos através da gama de frequências terahertz. Permite a mais alta gama dinâmica e directividade - tudo sem comprometer a precisão eléctrica ou a estabilidade mecânica. O EPS200MMW é uma solução de sondagem dedicada que vem com tudo o que é necessário para alcançar eficientemente resultados de medição precisos, incorporando métodos e conceitos de design mais conhecidos para sondagem até frequências de THz. Com uma estrutura sólida de fundição e um prato com suporte de quatro pontos, o EPS200MMW proporciona uma excelente estabilidade, tornando fácil alcançar uma alta precisão. A sua base de granito polido elimina quaisquer influências térmicas ou mecânicas, assegurando uma excelente planaridade e estabilidade do sistema. Uma solução integrada de isolamento de vibrações e uma mesa opcional de isolamento de vibrações mantém contactos de alta qualidade ao longo das medições. As opções únicas SIGMA™ integram perfeitamente cabeças mmW e sintonizadores de tracção de carga dos principais fornecedores de instrumentos de medição, permitindo a mais alta gama dinâmica e directividade sem comprometer a precisão eléctrica e a estabilidade mecânica. O microscópio SlimVue™ atenua as interferências mecânicas para uma óptica de alta precisão necessária para sondas de pequeno diâmetro