Sistema de medição para wafers CM300xi-ULN

Sistema de medição para wafers - CM300xi-ULN - FORMFACTOR
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Características

Produto medido
para wafers

Descrição

estação de Sonda de 300 mm para Ruído Cintilante (1/f), Ruído de Sinal Telegráfico Aleatório (RTN ou RTS), e Medições de Ruído de Fase de Dispositivos Ultrassensíveis O FormFactor melhorou a sua Estação de Sonda CM300xi líder na indústria com tecnologias revolucionárias para satisfazer novas capacidades de teste nos nós de tecnologia de 5, 3, e 2 nm, direccionada para aplicações de 5G e mais além. A nova Estação de Sonda CM300xi-ULN permite agora um desempenho de medição sem precedentes e atinge quatro estreias significativas na indústria na área dos testes de on-wafer, baixa frequência de cintilação, RTN, e ruído de fase: Tecnologia PureLine 3 Primeira estação de sonda automática a atingir o ruído espectral de -190dB* Plug In e Go A Gestão Integrada de Energia TestCell fornece energia CA totalmente gerida e filtrada a todo o sistema, sonda e instrumentos Funcionamento autónomo 24/7 Testes térmicos de ruído de cintilação até 4x mais rápidos em 30 almofadas μm Reduzir o tempo e custos de instalação Levantamento exclusivo de sítios de baixo ruído, e serviços de verificação de sistemas

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