Microscópio infravermelho C10506-06-16

para inspeçãoinvertidode infravermelho próximo

O microscópio de emissão invertida é um sistema de análise de fundo concebido para identificar locais de falha através da detecção da luz e do calor emitidos pelos defeitos nos dispositivos semicondutores. A detecção do sinal da parte traseira facilita o uso da sonda e do cartão de sonda para a superfície do wafer, e o ajuste da amostra pode ser executado sem problemas. A plataforma, possível de montar vários detectores e lasers, permite a seleção do detector ideal para realizar vários métodos de análise, como análise de emissão de luz e geração de calor, análise IR-OBIRCH e outros; além disso, permite que a análise dinâmica funcione eficientemente através da conexão do testador. ●iPHEMOS-MP Suporte para medição desde um único chip até uma pastilha, através da montagem de uma sonda de 300 mm. Contacto de agulha multi-pinos por cartão de sonda e observação de amostras na placa de PC estão disponíveis. A análise dinâmica com o acionamento do testador LSI também é possível através da conexão de cabos. Características - Duas câmaras de ultra-alta sensibilidade montáveis para análise de emissões e análise térmica - Lasers para até 3 comprimentos de onda e uma fonte de luz de sonda para EOP são montáveis - Multi-plataforma capaz de montar vários detectores - Lente macro de alta sensibilidade e até 10 lentes adequadas para cada comprimento de onda de sensibilidade do detector Opções - Inclui sistema de varredura a laser - Análise de emissões com câmera quase infravermelha de alta sensibilidade - Análise térmica com câmera de infravermelho médio de alta sensibilidade - Análise IR-OBIRCH - Análise dinâmica por irradiação laser - Análise da sondagem EO - Análise de alta resolução e de alta sensibilidade usando NanoLens - Conecta-se à navegação CAD - Conecta-se ao LSI tester