Microscópio óptico C15765-01

de laboratóriopara inspeçãoinvertido

O PHEMOS-X é um microscópio de emissão de alta resolução que identifica locais de falha em dispositivos semicondutores, detectando as fracas emissões de luz e de calor causadas por defeitos. Duas câmaras de ultra-alta sensibilidade são montáveis A cobertura de diferentes comprimentos de onda de detecção para análise de emissões e análise térmica permite uma selecção fácil de uma técnica de análise que corresponda à amostra e ao modo de falha. Até 5 fontes de luz para OBIRCH, DALS e EOP são montáveis Estágio de alta precisão concebido para dispositivos avançados O PHEMOS-X sobrepõe a imagem de emissão a uma imagem padrão de alta resolução para localizar rapidamente os pontos de defeito. A função de melhoramento do contraste torna uma imagem mais clara e mais detalhada. Função de visualização Anotações: Comentários, setas, e outros indicadores podem ser exibidos numa imagem em qualquer local desejado. Exibição em escala: A largura da escala pode ser mostrada na imagem utilizando segmentos. Apresentação da grelha: As linhas verticais e horizontais da grelha podem ser exibidas na imagem. Exibição de miniaturas: As imagens podem ser armazenadas e recuperadas como miniaturas, e a informação da imagem como coordenadas do palco pode ser mostrada. Exibição de ecrã dividido: Imagens padrão, imagens de emissão, imagens sobrepostas, e imagens de referência podem ser exibidas num ecrã de 6 janelas de uma só vez.