Espectrômetro de fluorescência X-RAY XDV-SDD

de fluorescência de raios Xde processopara revestimento

O raio X XDV®-SDD de Fischerscope® é uma unidade de calibragem da fluorescência de capacidade elevada do raio X que tenha um X/Y-stage e um Z-axis configuráveis que seja apropriado para o uso em medidas mecanizadas non-destructive de revestimentos finos e assim como para a análise de traço minúscula das concentrações. O revestimento que a unidade pode analisar inclui o ouro, o paládio e todo o outro metal precioso esse μm das medidas ≤0.1. A unidade opera-se baseado nas especificações de padrões de RoHS e de WEEE. É igualmente ideal para revestimentos de calibragem da função na eletrônica e nas indústrias do semicondutor. O raio X XDV®-SDD de Fischerscope® é integrado com aberturas permutáveis, filtros preliminares e assim como um processador rápido do pulso. Igualmente vem com um detetor da tração do silicone que alcance uma análise altamente exata, e sensibilidade adequada da mancha.