Espectrômetro de fluorescência X-RAY XDV®-µ

de fluorescência de raios Xde laboratóriode medição

FischerSchope® XDV®-Μ de Fischer é um sistema decálculo do raio X, integrado com sistema ótico polycapillary do raio X. Esta unidade do sistema ótico é utilizada geralmente para aplicações automatizadas da medida. É usada igualmente para a avaliação geral de espessuras e de composições de revestimento em materiais e em estruturas compactos. Os campos de aplicação comuns o FischerSchope® XDV®-Μ podem ser usados dentro incluem placas de PC, leadframes, bolachas, fios finos, e mais. O FischerSchope® XDV®-Μ exibe uma escala larga de características análise-relacionadas. Isto inclui um sistema da microanálise através das funções da optimização, as 100-µm ou menos capacidades da análise, e níveis de intensidade detalhados. Igualmente caracteriza a < 1 taxa da incerteza de medida do nanômetro, e uma câmara da medida compete com uma parcela do entalhe (C-entalhe).