Determinação de películas finas, oligoelementos e ligas.
Instrumento universal para medição em estruturas mais pequenas, revestimentos multicamadas muito finos, revestimentos funcionais e revestimentos muito finos ≤ 0,1 µm.
Desempenho melhorado até 50% ¹ graças ao
desempenho graças ao DPP+
Mesa de amostras ajustável manualmente
para um posicionamento rápido e fácil da sonda
Ajuste da distância de medição através do
método patenteado DCM
Análise universal por fluorescência de raios X para camadas muito finas.
O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 é o analisador XRF universal da Fischer para a determinação de camadas finas, elementos vestigiais e ligas. Com a medição de cima para baixo, a amostra é simplesmente colocada na mesa de corte operada manualmente. Um ponteiro laser serve como auxiliar de posicionamento. Isto significa que mesmo amostras com geometrias complexas podem ser analisadas com precisão e facilidade.
Versátil.
Ideal para a indústria eletrónica e de semicondutores
Análise RoHS.
Determinação fiável de substâncias perigosas
Design de medição rápida.
A amostra é colocada e está pronta para a medição em apenas alguns passos
Equilibrado.
Óptima relação custo-benefício
Processador de impulsos digital DPP+.
Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*
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