Espectrômetro de fluorescência de raios X FISCHERSCOPE® XDAL® 600

para eletrônicade medição

Determinação de películas finas, oligoelementos e ligas. Instrumento universal para medição em estruturas mais pequenas, revestimentos multicamadas muito finos, revestimentos funcionais e revestimentos muito finos ≤ 0,1 µm. Desempenho melhorado até 50% ¹ graças ao desempenho graças ao DPP+ Mesa de amostras ajustável manualmente para um posicionamento rápido e fácil da sonda Ajuste da distância de medição através do método patenteado DCM Análise universal por fluorescência de raios X para camadas muito finas. O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 é o analisador XRF universal da Fischer para a determinação de camadas finas, elementos vestigiais e ligas. Com a medição de cima para baixo, a amostra é simplesmente colocada na mesa de corte operada manualmente. Um ponteiro laser serve como auxiliar de posicionamento. Isto significa que mesmo amostras com geometrias complexas podem ser analisadas com precisão e facilidade. Versátil. Ideal para a indústria eletrónica e de semicondutores Análise RoHS. Determinação fiável de substâncias perigosas Design de medição rápida. A amostra é colocada e está pronta para a medição em apenas alguns passos Equilibrado. Óptima relação custo-benefício Processador de impulsos digital DPP+. Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*