Espectrômetro de fluorescência de raios X FISCHERSCOPE® XDL®

de mediçãopara controle da qualidadepara inspeção

• Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer for automated material analysis and non-destructive measurement of coating thickness according to ISO 3497 and ASTM B 568 • Smallest measuring spot XDLM: approx. 0.1 mm; smallest measuring spot XDL: approx. 0.2 mm • Tungsten X-ray tube or tungsten microfocus tube (XDLM) as an x-ray source • Proven proportional counter tube detectors for fast measurement • Fixed or changeable collimators • Fixed or automatically exchangeable primary filters • Available with either a manual or a programmable XY stage • Slotted housing for measuring on large printed circuit boards • Video camera for easy fixing of the measurement location • Certified full-protection devices Aplicações • Revestimentos galvanizados, como zinco sobre ferro como proteção contra corrosão • Testes em série de peças produzidas em massa • Análise da composição de aços especiais, por ex. detecção de molibdênio em A4 • revestimentos decorativos de cromo, por ex. Cr / Ni / Cu / ABS • Medição de revestimentos de ouro funcionais em placas de circuito impresso, como Au / Ni / Cu / PCB ou Sn / Cu / PCB • Revestimentos em conectores e contatos na indústria de eletrônicos, como Au / Ni / Cu e Sn / Ni / Cu