Espectrômetro de fluorescência de raios X FISCHERSCOPE® 5000

de processode mediçãopara análise

• Medição contínua em processos em execução com conexão a sistemas de controle de produção • Uso flexível: para medições em vácuo ou ar; para amostras de temperaturas de até 400 ° C • Opcionalmente disponível com refrigeração a água • Design e construção particularmente robustos para medições precisas de forma sustentável sob condições adversas • Excepcionalmente bem adequado para medição de espessura de revestimento e análise de material em produtos com grandes superfícies • Fonte de raios X, detector e filtro primário podem ser selecionados pelo cliente • Sistemas em conformidade com DIN ISO 3497 e ASTM B 568 O sistema FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 mede continuamente a espessura da camada de camadas finas em substratos de grandes áreas, por exemplo, em fotovoltaicos. Os dispositivos desta série formam unidades modulares fáceis de instalar em linhas de produção. O X-RAY 5000 pode ser operado em atmosfera normal ou sob vácuo. Além disso, o dispositivo é projetado para ser de fácil manutenção: a cabeça de medição pode ser reparada sem ter que liberar o vácuo. Se o produto se mover ou inchar durante a fabricação, pode distorcer os resultados da medição. Por esse motivo, o software WinFTM da Fischer também possui uma função integrada para compensação de distância, que pode compensar flutuações de até 1 cm sem a necessidade de sensores de distância adicionais.