Espectrômetro de fluorescência de raios X FISCHERSCOPE® XDAL®-PCB

de mediçãopara PCIde gama alta

Em contraste com o XULM-PCB e XDLM-PCB, o FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB é equipado com um detector de desvio de silício (SDD) altamente sensível, diferentes aberturas e filtros. Isto cria condições ideais de medição também para testes de revestimentos ENIG e ENEPIG. Em sua configuração básica, o instrumento possui uma tabela de amostras pop-out que simplifica o posicionamento da PCB. Mediante solicitação, este pode ser equipado com uma extensão de mesa de amostragem para grandes PCBs. • tubo de tungstênio ou cromo microfoco • 4x abertura variável para condições de medição otimizadas • 3x filtro variável para condições de excitação otimizadas para tarefas mais complexas • Ponto de medição mais pequeno Ø aprox. 0. 15 mm • Detector de deriva de silício (SDD) para análise de elementos de alumínio (13) a urânio (92) • Patente Fischer: o método DCM para ajuste simples e rápido da distância de medição • Etapa normalmente extraível para placas de circuito impresso até 610 x 610 mm (24" x 24") • Altura máxima da amostra 10 mm • Inspeção de aceitação individual como um instrumento totalmente protegido de acordo com a lei alemã de proteção contra radiação