• Analisador de fluorescência de raio X portátil universal para medição precisa da espessura do revestimento e análise do material - mesmo com combinações difíceis de materiais; está em conformidade com DIN ISO 3497 e ASTM B 568
• Peso 1,9 kg
• Uma carga de bateria dura até 6 horas de operação
• Ponto de medição: 3 mm Ø
• Detector de desvio de silício de alta resolução
• Classificação IP54 para uso externo
• Caixa de medição opcional para uso como dispositivo de bancada
• Avaliação de dados com a versão completa do software WinFTM®
Aplicações
• Teste em objetos volumosos e, com a caixa de medição, também em peças pequenas
• Determinação simultânea da espessura e da composição de uma camada em uma única medição (por exemplo, ZnNi sobre Fe)
• Medição sem padrão de ligas desconhecidas
• Medições em peças grandes revestidas, como componentes de máquinas e invólucros
• Teste de camadas galvânicas
• Análise do conteúdo de metal de banhos de galvanoplastia
O FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 é o sistema de fluorescência de raios-X mais versátil disponível. Como um analisador XRF portátil, é perfeito para inspecionar revestimentos em itens volumosos, como peças de aviões, tubos ou lâminas de turbina em uma linha de produção em funcionamento.
Em contraste com outros dispositivos portáteis de fluorescência de raios-X no mercado, o FISCHERSCOPE XAN 500 determina a espessura do revestimento com muita precisão. Seu suporte de 3 pontos facilita o correto posicionamento e o mantém estável durante toda a medição. Um detector de desvio de silício (SDD) de alta qualidade garante a precisão necessária para analisar camadas de liga, como zinco-níquel.