Espectrômetro de massa com ionização secundária AutoSIMS

para análiseautomáticocompacto

Sistema automático de análise de superfícies A Hiden Analytical desenvolveu um sistema automático de análise de superfícies totalmente autónomo no AutoSIMS, um inovador espectrómetro de massa de iões secundários (SIMS) que pode realizar análises de rotina e repetitivas com funcionamento sem supervisão. Com uma fase X-Y totalmente automatizada e um suporte expandido, o AutoSIMS da Hiden pode executar centenas de processos por dia durante um funcionamento ininterrupto 24 horas por dia, 7 dias por semana. Contaminação com silicone Célula solar flexível Stent cirúrgico Materiais electrónicos A Hiden Analytical é especializada em instrumentos SIMS para perfis de profundidade à nanoescala e análise quantitativa de superfícies de uma grande variedade de tipos de amostras, desde estações de trabalho completas a soluções SIMS compactas. O AutoSIMS inclui a mesma pistola de iões primários com fonte de oxigénio de longa duração e o analisador MAXIM que se encontram em toda a linha de produtos SIMS da Hiden, com a adição de um suporte de amostras em cassete modular e uma fase de amostras X-Y controlada por software. Isto fornece a base para a detecção de alta fiabilidade de espectros de superfície relevantes e perfis de profundidade tridimensionais (3D) sem intervenção humana. A longa vida útil do canhão de iões assegura a geração de um feixe consistente de elevada estabilidade durante longos períodos de funcionamento, permitindo que o suporte de cassetes e a plataforma de amostras forneçam doses contínuas de amostras para análises em lote de elevado rendimento. Mesmo os operadores principiantes podem programar o sistema automático de análise de superfícies, ajustando a matriz de parâmetros experimentais através de uma simples folha de cálculo.