Fonte de íons para espectrômetros de massa

Fonte de íons para espectrômetros de massa - Hiden Analytical
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Características

Especificações
para espectrômetros de massa

Descrição

Uma gama de opções de fontes de íons para análise de gás residual Hiden produz uma grande variedade de tipos de fontes de íons que podem ser ajustados à nossa gama completa de RGAs. Os tipos de fontes de íons são cruciais para o desempenho de um RGA e ter a capacidade de especificar qual fonte você precisa garante que nossos RGAs sejam configurados sob medida para aplicações específicas. Análise térmica TA/MS Estudos de catálise Cinética de Reacção Células de combustível CVD/MOCVD/ALCVD Monitoramento ambiental RGA padrão Uma configuração radialmente simétrica para aplicações gerais UHV de baixo perfil Otimizado para estudos de TPD UHV permitindo uma maior proximidade da fonte de íons com a superfície de evolução Fonte Fechada Para estudos de alta pressão com entrada direta de gás utilizada em conjunto com um estágio de bombeamento diferencial para o analisador XBS Cross Beam Configurado especificamente para monitoramento e controle da taxa de deposição MBE Viga Cruzada Básica Utilizada para análise de feixes moleculares, onde o feixe pode estar sujeito a condensação em superfícies ionizantes. A fonte apresenta uma via desobstruída através da região ionizante da fonte. Estão disponíveis mortalhas externas para proteger o filtro de massa quadripolar das espécies de condensação Fonte de feixe cruzado de laser Inclui duas vias ortogonais desobstruídas para a ionização do próton laser dentro da região da gaiola da fonte, proporcionando uma alternativa ao impacto dos electrões e à ionização da fixação dos electrões 4 Lentes Ópticas de Iões com Ionizador Integrado Adicionalmente, permite a análise de iões de baixa energia positivos e negativos gerados externamente ao analisador. Para estudos de dessorção estimulada por elétron, fóton e laser

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