Espectrômetro de massa com ionização secundária FIB-SIMS

para análisede alta sensibilidade

Adicione capacidade SIMS de alto desempenho ao seu sistema FIB existente A Hiden Analytical oferece espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) de alto desempenho para sistemas de feixe de íons focalizados (FIB) existentes, proporcionando uma excepcional especificidade de superfície e uma faixa naturalmente alta dinâmica para análise avançada de materiais em nanoescala. Nossos sistemas FIB-SIMS estão preparados para aprimorar suas operações, desde tarefas de detecção de rotina até o preparo de amostras complexas. A análise de materiais em nanoescala refere-se a um domínio crescente de instrumentos focados na detecção de elementos vestigiais e ultra-traço até a faixa de peças por milhão (ppm). Isto é crítico em mapeamento elementar tridimensional (3D) de alta sensibilidade e perfil de profundidade; ambos métodos chave de análise de materiais para aplicações analíticas e preparatórias de identificação de materiais. A espectrometria de massa de íons secundários com feixe de íons focalizados (FIB-SIMS) está entre as técnicas mais poderosas de identificação de materiais na análise de materiais em nanoescala de alta sensibilidade. Ela combina a excepcional sensibilidade superficial do SIMS com um feixe de íons primários focalizados, estabelecendo as bases para a análise qualitativa da composição das camadas de nanolina mais elevadas de materiais de interesse. FIB-SIMS pode fornecer dados elementares críticos baseados na detecção de isótopos e íons (atômicos e moleculares), com uma ampla gama de áreas de aplicação adequadas. Mapeamento de Superfície Elementar em Nano-escala Perfil de Profundidade 3D Análise de Materiais Excelente sensibilidade e alcance dinâmico Interface de software personalizada O modo "Característica MS" permite obter dados espectrais de massa de uma área específica de interesse, tais como um contaminante, limite de grãos, etc Soluções de montagem personalizadas disponíveis para qualquer sistema FIB