Sistema de medição de polarização PEM 100 series

ópticopara aplicações industriais

Os sistemas PEM duplos proporcionam a capacidade de fazer medições de análise de polarização em tempo real. Quando se utiliza apenas um PEM, devem ser feitas duas medições com a amostra rodada 45° após a primeira medição. Contudo, as medições podem ser feitas em tempo real utilizando dois PEM montados a 45° um em relação ao outro. Hinds Instruments tem quatro opções padrão de PEM duplo para aplicações que requerem diferentes aberturas úteis e medições em diferentes regiões espectrais. O sistema I/FS50-60 (e I/FS50-55, I/FS47-50) utiliza a série I PEM. A série l PEM tem uma óptica de forma rectangular que, na sua essência, limita a abertura útil do PEM. Estes pequenos sistemas são práticos quando a fonte de luz tem um diâmetro de feixe pequeno. Portanto, se a aplicação do PEM duplo envolver uma fonte de luz constituída apenas por um laser, esta é uma opção viável. Os sistemas II/FS20-23 e II/FS42-47 utilizam também sílica fundida de alta qualidade como material óptico e têm uma gama de transmissão de 170nm a 2,6µm. Ambos os modelos são completamente funcionais nas regiões espectrais de luz visível e perto de IR. No entanto, o sistema II/FS20-23 tem o benefício de uma abertura maior. Isto é especialmente útil se a fonte de luz tiver um grande diâmetro de feixe ou se for necessário acomodar mais do que uma fonte de luz. Este PEM duplo é tipicamente utilizado num sistema de polarímetro de Stokes para medir a orientação da componente linear da luz emitida por um feixe de átomos de deutério injectado no plasma tokamak. O II/42-47 é também utilizado em medições de polarimetria de Stokes e proporciona uma configuração mais compacta da cabeça óptica.