Sistema de medição de birrefringência Exicor® PV-Si
infravermelhoendurecido

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Características

Grandeza física
de birrefringência
Tecnologia
infravermelho

Descrição

Durante a produção de painéis solares de Si, o stress nos cristais de Si permanece muitas vezes sem ser detectado durante muito tempo no processo de fabrico. Hinds Instruments desenvolveu um instrumento de birefringência de tensão para medir lingotes de Si, quer ao quadrado, quer em bruto, antes de serem serrados em bolachas. Quando este instrumento é utilizado como instrumento de CQ, lingotes ou segmentos de Si de baixa qualidade podem ser identificados antes de se incorrer em custos de processamento subsequentes. Além disso, este instrumento fornece aos produtores de cristais de Si uma ferramenta para melhorar a qualidade dos lingotes de Si para que possam produzir bolachas mais finas com baixa perda de rendimento mecânico. Hinds Instruments' Near Infrared Exicor® Birefringence Measurement System 500 Si Ingot é uma extensão da plataforma do cavalo de trabalho da família de produtos Exicor birefringence Measurement System. Este sistema emprega moduladores fotoelásticos simétricos de alta qualidade, um laser de 1550 nm, e um detector de fotodíodos de avalanche Ge para permitir medições de birefringência de alta precisão para materiais Si utilizados tanto na indústria fotovoltaica como na indústria de semicondutores. Para além do Si, materiais como safira, carboneto de silício, selenieto de zinco, sulfureto de cádmio também podem ser medidos com este sistema. O modelo de 500 Si Ingot é robusto e versátil, construído para segurar e medir um lingote de 500 mm de comprimento de lingote bruto até diâmetros de 8 polegadas. A concepção do sistema e o software de digitalização automatizado intuitivo fazem deste produto a melhor escolha para a melhoria do material, esforços de I&D e avaliação dia após dia dos lingotes de Si em bruto, bem como de outros materiais de alta tecnologia. Características: Sensibilidade sem precedentes na medição de birefringência de baixo nível Medição simultânea da magnitude e ângulo de birefringência Repetibilidade de precisão

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Catálogos

Exicor® PV-Si
Exicor® PV-Si
2 Páginas
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