Polarímetro óptico Exicor 150XT
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Polarímetro óptico - Exicor 150XT - Hinds Instruments - digital / manual / modular
Polarímetro óptico - Exicor 150XT - Hinds Instruments - digital / manual / modular
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Características

Especificações
digital, óptico, manual, modular

Descrição

Hinds Instruments introduz o mais recente e mais avançado Sistema de Matriz Mueller para aplicações desafiantes de investigação e processos industriais que requerem uma sensibilidade ultra elevada e repetibilidade na distinção de elementos específicos e de baixo nível da Matriz Mueller. O novo sistema Polarímetro Mueller Exicor®XT série 4 PEM, desenvolvido pelo nosso Grupo de Pesquisa de Aplicações num projecto conjunto com o grupo Kahr da NYU, tem fornecido as melhores soluções da classe aos clientes líderes na pesquisa de Óptica, pesquisa de Cristais, Display de Painel Plano e Aplicações Litográficas Ópticas. Estas incluem aplicações que requerem a medição de: √ Todos os 16 elementos da matriz Mueller √ Retardamento linear e circular de baixo nível, com uma interacção mínima entre eles √ Todos os 6 parâmetros de polarização (retardamento linear - magnitude e ângulo; retardamento circular - magnitude; diattenuação linear - magnitude e ângulo; e diattenuação circular - magnitude) da luz DUV, com interacção mínima entre eles. √ Retardamento linear e circular, onde há uma interacção significativa entre eles. Características: -Medições simultâneas dos 16 elementos da matriz Mueller -Determinação de todos os parâmetros de polarização e estimativa para a despolarização -Máxima sensibilidade disponível -Repetibilidade de grau laboratorial -Personalização para propriedades de polarização de interesse disponível a pedido -Redições mínimas do comprimento de onda (DUV a IR) -Capacidade de incidentes normais e ângulo de incidência oblíquo -Piso de montagem ou desenho de bancada, com fases flexíveis para adicionar suportes de peças personalizadas -Tempos de ciclo de medição apropriados para processos de produção -Pacotes de software com características de análise extensiva de dados

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