Máquina de ensaio multiparâmetros
de semicondutor

Máquina de ensaio multiparâmetros - HIOKI E.E. CORPORATION - de semicondutor
Máquina de ensaio multiparâmetros - HIOKI E.E. CORPORATION - de semicondutor
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Características

Tipo de teste
multiparâmetros
Produto testado
de semicondutor

Descrição

Tipo X-Y: Características de produto Estes de alta velocidade, high-precision, elevado-confiabilidade povoaram a placa os verificadores da ponta de prova que do vôo são ideais para elevado-misturam a produção de baixo volume. A função de quatro fios da medida permite a deteção de ligações levantadas dos CI assim como o travamento das junções secas. As capacidades estendem ao teste in-circuit ativo dos FETs, dos relés, e de 3 reguladores de tensão terminais--as aplicações consideradas até agora como o teste desafiante emitem para o equipamento convencional. As características opcionais reservam mesmo conduzir a medida, a varredura do limite, e a contagem da freqüência do oscilador de cristal, etc. funcionais simples. Uma plataforma X-Y da TIC projetou ao manter a expansibilidade da flexibilidade e do futuro na mente!

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