Testador de isolamento 1232

de continuidadede baixa resistênciapara cartão eletrônico

PROVADOR DE TÁBUA RASA 1232 Sistema de Teste de Alta Precisão do Tipo Lote que Suporta Placas com Dispositivos Passivos e Ativos Embutidos Visão geral O 1232 é um testador de placas nuas que utiliza toda a gama de tecnologias de teste em circuito da Hioki para fornecer testes de confiabilidade LSI, testes complexos de separação de componentes, testes de alta continuidade e isolamento, e muito mais. Características principais - (Alinhamento de duas faces)Dimensões da placa testável: 50 × 50 a 330 × 330 mm (incluindo a área de grampo) - O suporte para placas de acumulação que requerem resistência garante a combinação dos valores teóricos de resistência gerados pelo SIM-LINE com medição de resistência de alta precisão e 4-terminal assegura a fiabilidade do padrão - Suporte para placas com dispositivos passivos e ativos incorporados graças à experiência de medição desenvolvida em conexão com os testadores Hioki em circuito - Suporte para placas de quarto de painel CSP/CPU com área de trabalho grande, 340 × 330 mm - Suporte para placas flexíveis: O modelo 1232-11 suporta tábuas finas até 0,05 mm. Os grampos de tensão podem fixar as tábuas flexíveis de uma maneira estável Especificações gerais Número máximo de pinos - 4.096 cada um em cima e em baixo (inclui conector padrão de um toque de 4.096 pinos) Número de passos de teste - Max. 10,000 Tempo de ciclo - Medição a 0,330 s/peça (210 μsec. continuidade × 1.024, isolamento de 115 msec.) (*2.048 pontos finais e 1.024 redes por peça) Diâmetro mínimo da almofada - φ 10 μm Dimensões das tábuas com grampos/transportáveis - Espessura: 0,05 a 2,5 mm (Nem todas as espessuras suportadas; contacte a HIOKI para mais informações sobre testes de tábuas finas)