Analisador de espessura de revestimentos FT160 Series

de liga de metalde bancadafluorescência de raios-X

Análise rápida e precisa dos revestimentos em nanoescala O analisador FT160 de bancada XRF foi concebido para medir as características minúsculas encontradas nos PCBs, semicondutores e micro-conectores actuais. A capacidade de medir com precisão e rapidez as características minúsculas ajuda a aumentar a produtividade e a evitar dispendiosos retrabalhos ou rejeição de componentes. A óptica policapilar do FT160 pode medir revestimentos à escala nanométrica em características inferiores a 50 µm, e a tecnologia avançada de detecção dá-lhe alta precisão ao mesmo tempo que mantém um curto tempo de medição. Outras características, tais como uma grande mesa de amostras, porta de abertura larga, câmara de amostras de alta definição e uma janela de observação substancial, facilitam o carregamento de artigos de tamanho variável e a localização da região de interesse num grande substrato. Fácil de usar, este analisador integra-se perfeitamente no seu processo de GQ/CQ, alertando-o para problemas antes que estes se tornem uma crise. Concebida para análise de micropontos e revestimentos ultrafinos, a óptica e a tecnologia de detecção FT160 são optimizadas para as mais pequenas das características. Grande janela de observação para análise visual a partir de uma distância segura Os métodos de medição cumprem as normas ISO 3497, ASTM B568 e DIN 50987 Acabamentos de teste para conformidade IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 e IPC-4556 Localização automatizada de características para configuração rápida de amostras Escolha da configuração do analisador optimizada para a sua aplicação Medir revestimentos à escala nanométrica em características inferiores a 50 µm Duplicar o rendimento da análise dos instrumentos convencionais Acomoda grandes amostras numa vasta gama de formas Desenho robusto testado para utilização na produção a longo prazo