Microscópio STEM HF5000

para a pesquisa sobre materiaispara análise de materiaisde metrologia

O exclusivo TEM/STEM de 200 kV com correção de aberrações da Hitachi: a harmonia perfeita entre resolução de imagem e desempenho analítico 0.a resolução espacial de 078 nm no STEM é conseguida em conjunto com uma elevada capacidade de inclinação da amostra e detetor(es) EDX de grande ângulo sólido, tudo numa configuração de lente objetiva única. O HF5000 baseia-se nas características do STEM dedicado Hitachi HD-2700, incluindo o próprio corretor de aberrações totalmente automatizado da Hitachi, EDX SDD duplo simétrico e imagem SE com correção de Cs. Incorpora também as tecnologias avançadas TEM/STEM desenvolvidas na série HF. A integração destas tecnologias acumuladas numa nova plataforma TEM/STEM de 200 kV resulta num instrumento com uma combinação óptima de imagiologia e análise sub-Å, bem como a flexibilidade e as capacidades únicas para abordar os estudos mais avançados. ※Com ecrãs de monitor incorporados e opção de 2º monitor. - Corretor de aberração esférica de formação de sonda totalmente automatizado da Hitachi - Pistola de electrões FE a frio de alto brilho e alta estabilidade (Cold FEG) - Coluna e fontes de alimentação ultra-estáveis para um melhor desempenho do instrumento - Capacidade de imagem SEM e STEM com correção de Cs simultânea e resolução atómica - Nova plataforma de entrada lateral de amostras de alta estabilidade e suportes de amostras - Detectores EDX* duplos de 100 mm2 simetricamente opostos: "Symmetrical Dual SDD*" - Caixa com novo design para um desempenho ótimo em ambientes laboratoriais reais - Uma vasta gama de suportes de amostras avançados Hitachi* FEG frio de alto brilho×Alta estabilidade×Corretor automático de aberrações Hitachi O novo FEG a frio de alta estabilidade utiliza uma versão completamente redesenhada da tecnologia de fonte de electrões de emissão de campo a frio há muito estabelecida pela Hitachi.