- Metrologia - Laboratório
- Análises Físico-Químicas
- Espectrômetro EDX
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
Espectrômetro de raios X Element seriesEDXpara análises elementaresde bancada
Guardar nos favoritos
Comparar
Características
- Tipo
- de raios X, EDX
- Âmbito de utilização
- para análises elementares
- Configuração
- de bancada
- Detector
- SDD
Descrição
As séries Element são sistemas EDX produzidos pela EDAX Instruments. A janela Si3N4 SDD melhora a velocidade de mapeamento e os limites de deteção.
Janela Si3N4
Janela Si3N4 para otimizar a transmissão de raios X de baixa energia para análise de elementos leves. Janela de detetor convencional, melhora a velocidade de mapeamento e o limite de deteção.
---
Catálogos
Não estão disponíveis catálogos para este produto.
Ver todos os catálogos da Hitachi High-Tech Europe GmbHOutros produtos Hitachi High-Tech Europe GmbH
Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)
Pesquisas relacionadas
- Espectrômetro
- Espectrômetro compacto
- Espectrômetro de bancada
- Espectrômetro para análise
- Espectrômetro químico
- Espectrômetro industrial
- Espectrômetro para a indústria farmacêutica
- Espectrômetro em tempo real
- Espectrômetro de raios X
- Espectrômetro para pesquisa e desenvolvimento
- Espectrômetro para análise de metais
- Espectrômetro de alta precisão
- Espectrômetro para aplicações científicas
- Espectrômetro para controle da qualidade
- Espectrômetro de alta velocidade
- Espectrômetro para a indústria eletrônica
- Espectrômetro para aplicações médicas
- Espectrômetro para a indústria metalúrgica
- Espectrômetro para eletrônica
- Espectrômetro para pesquisa e desenvolvimento
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.