Usando a técnica de fluorescência de raios X, medições rápidas e precisas podem ser realizadas em conformidade com o método ASTM D4294, seja em laboratório ou em campo. Este analisador compacto tem uma faixa de 0 a 5 wt% do total de enxofre, com um limite de detecção inferior de 20 ppm e repetibilidade de 15 ppm. CaracterísticasMedição de alta precisão (repetibilidade: 15ppm, limite de detecção inferior: 20ppm) Ultra compacto e leve (fácil de transportar e ideal para análise no local)5 tipos de curvas de calibração são guardados e a curva de calibração adequada é automaticamente seleccionada em cada medição.Padrões aplicados às funções de medição do dispositivo: JIS K2541, JIS B7995(Japão), ASTM D4294(EUA), ISO 8754
---