Soquete de teste para TO (Transistor Outline) GD18-TO263-
de burn-inKelvin

soquete de teste para TO (Transistor Outline)
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Características

Especificações
de burn-in, Kelvin, para TO (Transistor Outline)

Descrição

Tomada de teste do pacote TO Para TO-263/D2-PAK Tamanho18x32.9mm / 0.71x1.30" Clamshell - Teste de queima - Contacto Kelvin (opção) - Corrente nominal: 10A - Temperatura de funcionamento : [Dispositivo aceitável] FDB28N30 (ON Semiconductor) IRFS7437PbF (Infineon) STB11NK50ZT4 (STMicroelectronics) C3D06060G (CREE) SK107114 (Sanken) DMTH4004SCTB (Diodes Incorporated) IXTA1R6N50D2 (IXYS) ** Incluindo o aumento da temperatura do terminal. Também é possível suportar outros padrões de terminais. Após a realização de uma simulação, decidiremos qual a dimensão a adotar e apresentaremos uma proposta a adotar e apresentaremos uma proposta. Os orifícios de passagem KG, DK e SK destinam-se ao contacto Kelvin. Se o contacto Kelvin não for necessário, estes orifícios não são necessários. Capacidade para suportar outras dimensões de dispositivos. Por favor, contacte-nos para mais informações. Embora o dispositivo esteja listado, pode não ser compatível devido à grande tolerância da dimensão do dispositivo. Por conseguinte, é favor enviar antecipadamente a amostra do dispositivo e verificaremos a compatibilidade.

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