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Soquete de teste de burn-in GD18-TO263-7-x-109
Kelvinpara TO (Transistor Outline)

soquete de teste de burn-in
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Características

Especificações
de burn-in, Kelvin, para TO (Transistor Outline)

Descrição

Tomada de teste do pacote TO Para TO-263-7/D2-PAK Tamanho18x32.9mm / 0.71x1.30" Clamshell - Teste de queima - Contacto Kelvin (opção) - Corrente nominal: 12A - Temperatura de funcionamento : [Dispositivo aceitável] AUIRFSA8409-7P (Infineon) C3M0075120J (CREE) STH300NH02L-6 (STMicroelectronics) SQM40016EM (Vishay) ** Incluindo o aumento da temperatura do terminal. Também é possível suportar outros padrões de terminais. Para mais informações, contacte-nos. Depois de efetuar uma simulação, decidiremos qual a dimensão a adotar a adotar e apresentaremos uma proposta. ・ O PCB Patten é comum para os padrões de terminal A, B e C ・Os orifícios GK, DK, SK são para contacto Kelvin. Se o contacto Kelvin não for necessário, estes orifícios não são necessários. Capaz de suportar outro tamanho de dispositivo. Por favor contacte-nos para mais informações. Embora o dispositivo esteja listado, pode não ser compatível devido à grande tolerância da dimensão do dispositivo. Por conseguinte, é favor enviar antecipadamente a amostra do dispositivo e verificaremos a compatibilidade.

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Tradução automática  (ver texto original em inglês)

Catálogos

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