Soquete de teste de burn-in GU12-TO252-K-S74X68Kelvinpara TO (Transistor Outline)
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Características
- Especificações
- de burn-in, Kelvin, para TO (Transistor Outline)
Descrição
Tomada de teste do pacote TO
Para TO-252/D-PAK
Size12x24.9mm/0.47x0.98"
Clamshell
- Teste de queima
- Contacto Kelvin (opção)
- Custo competitivo
- Temperatura de funcionamento :
[Dispositivo aceitável]
NTD5862N(ON Semiconductor)
RD3U080AAFRA(ROHM)
IXTY14N60X2(IXYS)
PG-TO252-3-11(Infineon)
SUD50N06-09L(Vishay)
GK,DK,SK Os orifícios passantes são para Kelvincontact.
Estes orifícios não são necessários se o contacto Kelvin não for necessário.
Geralmente, o tamanho da embalagem TO-252/D-PAK é especificado.
No entanto, o tamanho depende dos fabricantes de semicondutores e dos dispositivos.
Se nos enviar o seu dispositivo com antecedência, podemos confirmar devidamente a sua adoção.
Para utilizar a tomada de teste durante um longo período de tempo, recomendamos uma limpeza regular.
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Catálogos
GU12-TO252-K-S74X68
2 Páginas
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