Soquete de teste de burn-in GD18-TO252-x-755
Kelvinpara TO (Transistor Outline)

Soquete de teste de burn-in - GD18-TO252-x-755 - JC CHERRY INC. - Kelvin / para TO (Transistor Outline)
Soquete de teste de burn-in - GD18-TO252-x-755 - JC CHERRY INC. - Kelvin / para TO (Transistor Outline)
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Características

Especificações
de burn-in, Kelvin, para TO (Transistor Outline)

Descrição

Tomada de teste do pacote TO Para TO-252/D-PAK Tamanho18x32.9mm / 0.71x1.30" Clamshell - Teste de queima - Contacto Kelvin (opção) - Corrente nominal: 10A - Temperatura de funcionamento : [Dispositivo aceitável] IRF40R207 (Infineon) TK560P65Y (TOSHIBA) MJD47 (ON Semiconductor) 2SD1918 (ROHM) ** Incluindo o aumento da temperatura do terminal. *** Também é possível suportar outros padrões de terminais. Os orifícios passantes GK,DK,SK são para contacto Kelvin. Se o contacto Kelvin não for necessário, estes orifícios não são necessários. Capaz de suportar outros tamanhos de dispositivos. Para mais informações, contacte-nos. Embora o dispositivo esteja listado, pode não ser compatível devido à grande tolerância da dimensão do dispositivo. Por conseguinte, é favor enviar antecipadamente a amostra do dispositivo e verificaremos a compatibilidade.

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Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.