Soquete de teste de burn-in DCL-QFP1414-100-P050

QFN

Tipo de bloqueio de trinco para ou QFP,SOP Produtos padrão A tomada de teste que permite a medição do sinal de transmissão a alta velocidade, adoptando o método de contacto que pressiona diretamente o cabo do dispositivo contra a placa. O "tipo Latch Lock", que fixa a tampa da tomada com um trinco, permite-lhe substituir o dispositivo de forma eficiente, uma vez que a tampa pode ser fixada e retirada simplesmente pressionando-a a partir de cima. Dispomos de uma linha de produtos padrão que correspondem às dimensões dos dispositivos QFP/SOP e podem ser entregues num curto espaço de tempo. [Aplicação] - Montagem em PCB para produção em massa - Teste final e inspeção em ambiente real (ex. automóvel, robótica, dispositivos eléctricos para mobilidade) - Análise de falhas de IC Uma vez que a tomada geral do CI tem terminais (sonda de mola, palheta de placa, etc.) entre a placa e o dispositivo, o número de contactos aumenta e o sinal pode deteriorar-se ou atenuar-se, mas esta tomada está num estado próximo da soldadura. É ideal para avaliar dispositivos de CI de alta velocidade porque suprime a deterioração do sinal. Para além do tipo Latch Lock introduzido nesta página, temos a seguinte linha. - Tipo de bloqueio de trinco e bloqueio de parafuso - Tipo de alavanca rotativa - Tipo de parafuso verifica-se que as características são melhoradas quando se utiliza uma tomada convencional e quando se utiliza uma tomada de contacto direto. ・ Como a tampa pode ser fixada e removida simplesmente pressionando-a por cima, o dispositivo pode ser substituído com eficiência. ・ O gerenciamento de torque é desnecessário desde a configuração do dispositivo até a preparação da medição. ・ Temos uma linha de produtos padrão que correspondem às dimensões dos dispositivos QFN / SOP. ・Possibilidade de entrega rápida.