Soquete de teste de burn-in LGA Series

manual

Tomada de sensor de imagem de alta fiabilidade para placa de avaliação CCD e CMOS - Compatível com a série SONY IMX - Para placa de avaliação de CCD e CMOS - Para LGA, BGA, QFN -" Passo Uma solução para testes de dispositivos LGA, verificação de circuitos e desenvolvimento. Na inspeção de CCD e CMOS, que se diversificaram nos últimos anos, não é necessário montar o dispositivo diretamente na placa de circuito impresso. Consequentemente, os custos podem ser mantidos baixos, uma vez que não é necessário substituir a placa de circuito impresso aquando da atualização, e os danos na placa-mãe causados pela fusão da solda de cada vez que esta é substituída podem ser reduzidos. Podemos conceber à medida, de acordo com vários tipos, como a utilização manual, a utilização por manipuladores e a utilização por queima. Além disso, uma vez que a tomada pode ser ligada diretamente à placa de avaliação, pode ser utilizada em combinação com uma câmara de visão artificial. Classificação atual - Gama de temperaturas - Resistência de contacto - Tipo de dispositivo aceitável - LGA,(BGA,QFN) * Como não temos este tipo de produto, é favor preparar um produto disponível no mercado. Uma vez que a montagem em C e a tomada não podem ser utilizadas em conjunto, queira preparar a montagem em CS. ** Também concebemos e fabricamos placas de circuito impresso. Não hesite em contactar-nos. *** Quando se utiliza uma tomada, é necessário um ajuste porque a distância entre o sensor de imagem e a superfície do suporte do montador difere do padrão de montagem CS. Por conseguinte, ao utilizar o anel de ajuste (1-32UNF), a "montagem CS" pode ser definida para um flange traseiro que esteja em conformidade com a distância focal longa "C", demonstrando o seu desempenho. Também fabricamos anéis de ajuste, por isso, contacte-nos. (A montagem C e a montagem CS são definidas pela JEITA como normas para câmaras industriais)