Soquete de teste de burn-in GUT8 Series
para dispositivos eletrônicos de quartzo

Soquete de teste de burn-in - GUT8 Series - JC CHERRY INC. - para dispositivos eletrônicos de quartzo
Soquete de teste de burn-in - GUT8 Series - JC CHERRY INC. - para dispositivos eletrônicos de quartzo
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Características

Especificações
de burn-in, para dispositivos eletrônicos de quartzo

Descrição

Tomada de teste para dispositivo de cristal (Osciladores de quartzo, MEMS, etc.) Tipo de topo aberto Tamanho 8mm x 17mm / 0.31 "x0.67" Concebido para se adaptar à configuração de dispositivos automatizados. Compatível com vários tamanhos, tais como 2016, 3225. - Resistência ao calor: -40 a +150°C (tip.) - Elevada fiabilidade - Personalizável para se adaptar ao seu dispositivo Tipos de dispositivos alvo: Unidade de Cristal de Quartzo, Osciladores de Quartzo, Dispositivos MEMS, filtros SAW, ressonadores de diapasão, etc.

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Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.