Soquete de teste de burn-in GUT8 Seriespara dispositivos eletrônicos de quartzo
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Características
- Especificações
- de burn-in, para dispositivos eletrônicos de quartzo
Descrição
Tomada de teste para dispositivo de cristal
(Osciladores de quartzo, MEMS, etc.)
Tipo de topo aberto
Tamanho 8mm x 17mm / 0.31 "x0.67"
Concebido para se adaptar à configuração de dispositivos automatizados.
Compatível com vários tamanhos, tais como 2016, 3225.
- Resistência ao calor: -40 a +150°C (tip.)
- Elevada fiabilidade
- Personalizável para se adaptar ao seu dispositivo
Tipos de dispositivos alvo:
Unidade de Cristal de Quartzo, Osciladores de Quartzo,
Dispositivos MEMS, filtros SAW, ressonadores de diapasão, etc.
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Catálogos
For Crystal Device GUT8 Series
2 Páginas
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.