Soquete de teste de altas frequências GU10 Seriesde burn-inmanualpara dispositivos eletrônicos de quartzo
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Características
- Especificações
- de burn-in, manual, para dispositivos eletrônicos de quartzo, de altas frequências
Descrição
Tomada de teste e gravação para osciladores de quartzo, MEMS, etc.
Tipo Clam-shell, Alta Frequência
Tamanho da estrutura 10x16mm / 0.39x0.63"
Concebida para a regulação manual do dispositivo.
Adequado para testes de avaliação de características.
Utiliza pinos de sonda ultra-curtos com uma estrutura flutuante,
adequado para utilização em altas frequências.
- Temperatura -40 a +150°C (tip.)
- Elevada fiabilidade
- Custo competitivo
- Personalizável para se adaptar ao seu dispositivo
Tipos de dispositivos alvo:
Unidade de Cristal de Quartzo, Osciladores de Quartzo, Dispositivos MEMS,
Filtros SAW, ressonadores de diapasão, etc.
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Catálogos
GU10 Series
3 Páginas
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.