Microscópio eletrônico de varredura (MEV) miXcroscopy™

de laboratóriode pisode alta resolução

O mesmo suporte de amostras pode agora ser utilizado tanto para o microscópio ótico como para o microscópio eletrónico de varrimento. Como resultado, ao gerir a informação da platina com software dedicado, é possível ao sistema registar as localizações observadas com o microscópio ótico, e depois ampliar as mesmas áreas com o microscópio eletrónico de varrimento para observar as estruturas finas com maior ampliação e maior resolução. É agora possível comparar e verificar de forma simples e fácil as imagens do microscópio ótico e as imagens do microscópio eletrónico de varrimento. Características Aquisição de dados e observação intuitiva com a utilização de cores Ao adicionar informações sobre a cor da luz visível da imagem do microscópio ótico (que não pode ser obtida com a imagem SEM), fornece uma imagem SEM com um efeito visual mais intuitivo. A procura suave de alvos tira partido das características do microscópio ótico A observação com o microscópio ótico permite encontrar facilmente as estruturas alvo, que são difíceis de distinguir utilizando imagens SEM. Evita danos na amostra provocados pelo feixe de electrões Para evitar danos ou contaminação pelo feixe de electrões, a localização da área de interesse é feita primeiro com o microscópio ótico. Isto permite a observação SEM com uma dose mínima de radiação para o local de observação.