Microscópio FIB/SEM CRYO-FIB-SEM
industrialde fluorescência

microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
Guardar nos favoritos
Comparar
 

Características

Tipo
FIB/SEM
Aplicações técnicas
industrial
Técnica
de fluorescência

Descrição

Este sistema CRYO-FIB-SEM incorpora um estágio de arrefecimento por nitrogénio líquido e um mecanismo de transferência de espécimes criogénicos para espécimes congelados, tornando possível a preparação de espécimes TEM, tais como biopolímeros. O mecanismo de transferência de amostras tem uma função de revestimento por pulverização catódica incorporada. Assim, este sistema CRYO-FIB-SEM pode, por si só, realizar uma série de processos para criar espécimes TEM a partir de espécimes congelados, incluindo revestimento de condutividade, formação de película protetora e processamento FIB. Além disso, ao utilizar o cartucho CRYO ARM™ da JEOL, a transferência direta de amostras para o CRYO ARM™ após a preparação de amostras TEM torna-se mais fácil. Características - Transferência de amostras crio utilizando o cartucho CRYO ARM Depois de anexar uma malha de amostra ao cartucho, não é mais necessário manusear a malha de amostra usando pinças, de modo que a transferência de amostras de alto rendimento pode ser realizada. - Fase de arrefecimento altamente estável A fase de arrefecimento por condutividade térmica reduz o desvio e a vibração da fase causados pelo processo de arrefecimento e permite uma preparação estável do espécime TEM. - Dispositivo anti-contaminação exclusivo da JEOL Com este dispositivo anti-contaminação recentemente desenvolvido, a contaminação do gelo na câmara de espécimes é reduzida. Mesmo durante a preparação prolongada de grandes quantidades de espécimes, o dispositivo suprime ao máximo a contaminação por gelo. Fluxo de trabalho do Cryo CLEM Um fluxo de trabalho cryo-CLEM utilizando o cartucho CRYO ARM™ pode ser construído utilizando um criostato fabricado pela Linkam Scientific Instruments* e um microscópio de fluorescência fabricado pela Nikon Solutions*. As coordenadas da plataforma de cada instrumento podem ser ligadas, para que a orientação e a posição da amostra possam ser sempre identificadas durante a transferência da amostra entre instrumentos.

---

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da Jeol

Outros produtos Jeol

Scientific Instruments

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.