Microscópio eletrônico de varredura (MEV) JSM-IT800 series
para análises3Dde piso

Microscópio eletrônico de varredura (MEV) - JSM-IT800 series - Jeol - para análises / 3D / de piso
Microscópio eletrônico de varredura (MEV) - JSM-IT800 series - Jeol - para análises / 3D / de piso
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Características

Tipo
eletrônico de varredura (MEV)
Aplicações técnicas
para análises
Técnica
3D
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo Schottky
Tipo de detector
EBSD
Outras características
de observação, para semicondutor, para topografia
Ampliação

MÍN: 10 unit

MÁX: 5.480.000 unit

Resolução espacial

MÍN: 0,7 nm

MÁX: 3 nm

Descrição

O JSM-IT800 incorpora o nosso "canhão de electrões de emissão de campo Schottky Plus In-lens" para imagens de alta resolução e mapeamento rápido de elementos, e um inovador sistema de controlo ótico de electrões "Neo Engine", bem como um sistema de GUI contínuo "SEM Center" para mapeamento rápido de elementos com um espetrómetro de raios X dispersivos de energia (EDS) da JEOL totalmente integrado, como plataforma comum. O JSM-IT800 permite a substituição da lente objetiva do SEM como um módulo, oferecendo diferentes versões para satisfazer as várias necessidades dos utilizadores. Com o JSM-IT800, estão disponíveis cinco versões com diferentes lentes objectivas: uma versão de lente híbrida (HL), que é um FE-SEM de uso geral; uma versão de lente super-híbrida (SHL/SHLs, duas versões com funções diferentes), que permite uma observação e análise de maior resolução; e a recém-desenvolvida versão semi-in-lens (i/is, duas versões com funções diferentes), que é adequada para a observação de dispositivos semicondutores. Além disso, o JSM-IT800 também pode ser equipado com um novo detetor de electrões retrodispersos de cintilador (SBED) e um detetor versátil de electrões retrodispersos (VBED). O SBED permite a aquisição de imagens com elevada capacidade de resposta e produz um nítido contraste de material, mesmo com uma baixa tensão de aceleração, enquanto o VBED pode ajudar a obter imagens de 3D, topografia e contrastes de material. Assim, o JSM-IT800 pode ajudar os utilizadores a obter informações que não eram possíveis de obter e a resolver problemas de medição.

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