Microscópio eletrônico de transmissão (MET) JEM-ARM200F

para análisesde emissão de campo friocom câmera digital

o "NEOARM" / JEM-ARM200F vem com a pistola de emissão de campo frio (Cold FEG) exclusiva da JEOL e um novo corretor de Cs (ASCOR) que compensa as aberrações de ordem superior. A combinação de um FEG frio e de um ASCOR permite obter imagens de resolução atómica não só com uma tensão de aceleração de 200 kV, mas também com uma tensão baixa de 30 kV. o "NEOARM" está também equipado com um sistema automático de correção de aberrações que incorpora o novo algoritmo de correção de aberrações da JEOL para uma correção automática, rápida e precisa. Este sistema permite obter imagens de resolução atómica de maior rendimento. Além disso, um novo detetor STEM que fornece um contraste melhorado de elementos de luz é incorporado como uma unidade padrão. O aumento do contraste dos elementos leves é conseguido através de uma nova técnica de imagem STEM (e-ABF: enhanced ABF), facilitando a observação de materiais com elementos leves, mesmo com baixas tensões de aceleração. A sala do microscópio está separada da sala de operações para responder a uma operação remota. Além disso, são adoptadas as novas cores de conceito dos produtos JEOL "branco puro" e "prata JEOL", conduzindo a um design exterior sofisticado do "NEOARM". Características Característica 1 Corretor de aberração esférica (Cs) ASCOR (Advanced STEM corretor) O ASCOR incorporado no "NEOARM" pode suprimir o astigmatismo de seis vezes que limita a resolução após a correção Cs. A combinação do ASCOR e do FEG a frio proporciona uma baixa aberração cromática e expande o limite de difração, alcançando uma resolução mais elevada do que nunca.