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Microscópio EDX PSEpara inspeção de materiaiscorrelativo
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Características
- Tipo
- EDX
- Aplicações técnicas
- para inspeção de materiais
- Outras características
- correlativo
Descrição
Mikroscopia correlativa: Combinação de dados ópticos e de MEV
SEM com EDX: JOMESA PSE
-Lê as informações das partículas a partir da base de dados
-Análise SEM-EDX rápida de partículas selecionadas
-Opção: Varrimento completo ou varrimento de todas as partículas ópticas
-Armazena os resultados na base de dados
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.