O desenvolvimento e utilização de MOSFETS, IGBTs, díodos e outros dispositivos de alta potência requer uma caracterização abrangente do nível do dispositivo, tais como tensão de ruptura, corrente no estado e medições de capacidade. Enquanto o software de traçador de curvas I-V suporta testar dois dispositivos terminais em SMUs gráficas, Keithley também oferece configurações de traçador de curvas paramétricas de alta potência para suportar todo o espectro de tipos de dispositivos e parâmetros de teste. Estas configurações imitam mais de perto os antigos traçadores de curvas I-V da Tektronix.
As configurações do Keithley Parametric Curve Tracer incluem tudo o que é necessário para que o engenheiro de caracterização possa desenvolver rapidamente um sistema de teste completo. Estas configurações são também modulares, pelo que podem ser actualizadas no futuro e os instrumentos individuais como unidades de medida de fonte podem ser utilizados para outras aplicações.
- Soluções completas concebidas para um preço e desempenho óptimos
-Campo actualizável e reconfigurável -- converta o seu PCT para um aparelho de teste de fiabilidade ou de tipo wafer
-Níveis de potência configuráveis:
oDe 200V a 3kV
oDe 1A a 100A
-Gama dinâmica alargada:
oDe µV a 3kV
oDe fA a 100A
-Gama completa de capacidade de capacitância-voltagem (C-V):
deF a µF
oSuporta dispositivos 2, 3, e 4 terminais
oUp a 3kV DC bias
-O dispositivo de teste de alto desempenho suporta uma gama de tipos de embalagens
-Interface da estação da sonda suporta a maioria dos tipos de sonda incluindo HV triax, SHV coax, triax standard, e outros
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