O CellaCrystal PX 44 foi desenvolvido para a medição ótica da temperatura na produção de cristais de Si e SiC. A calibração é especialmente adaptada ao processo de crescimento. Graças à avaliação do sinal híbrido com uma alta resolução constante de < 0.1 K em toda a faixa de medição e a estabilidade muito alta a longo prazo graças à tecnologia de sensor de luz constante, o dispositivo atende aos altos requisitos para a precisão de medição necessária.
Características especiais:
Faixa de medição de 750 a 3000 °C - PX 44 AF 4 calibração especial para a produção de cristais feitos de silício - PX 44 AF 7 calibração especial para a produção de carboneto de silício - Avaliação de sinal híbrido para alta resolução metrológica - Alta estabilidade a longo prazo devido ao mínimo de auto-aquecimento - Óptica focalizável para o ajuste exato da distância de medição - Como padrão: Interface IO-Link e saída analógica