Máquina de inspeção óptica Candela® 7100 series
de superfíciecom disco rígidopara a indústria eletrônica

Máquina de inspeção óptica - Candela® 7100 series - KLA Corporation - de superfície / com disco rígido / para a indústria eletrônica
Máquina de inspeção óptica - Candela® 7100 series - KLA Corporation - de superfície / com disco rígido / para a indústria eletrônica
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Características

Tecnologia
óptica
Aplicações
de superfície, com disco rígido
Setor
para a indústria eletrônica
Outra característica
de defeitos, automática

Descrição

A série Candela 7100 oferece deteção e classificação avançadas de defeitos para substratos e suportes de unidades de disco rígido. Construída com base na linha de produtos Candela com provas dadas na produção, a série 7100 de sistemas de deteção e classificação de defeitos de HDD ajuda os fabricantes a detetar e classificar defeitos submicrónicos críticos, tais como micropoços, saliências, partículas e defeitos enterrados, para maximizar o rendimento e reduzir o custo total da inspeção. O sistema avançado de deteção e classificação de defeitos da série Candela 7100 foi concebido especificamente para substratos e suportes de unidades de disco rígido. Um laser de comprimento de onda duplo de alta potência é optimizado para os desafios actuais de defeitos de interesse (DOI), e os detectores de dispersão multicanal proporcionam uma sensibilidade melhorada para a classificação de poços submicrónicos, saliências, partículas e defeitos enterrados numa gama completa de substratos. A capacidade e a estabilidade do inspetor de defeitos da série 7100 garantem que uma plataforma pode ser utilizada para vários pontos de aplicação de controlo de processos, reduzindo a dependência de ferramentas e métodos como os microscópios de força atómica, de electrões de varrimento e de electrões de transmissão para investigar defeitos e identificar a causa principal. Detecta e classifica poços submicrónicos de HDD, saliências, partículas, defeitos enterrados em metal e vidro, substratos e suportes com mapas completos de defeitos de disco Fornece resultados mais rápidos através de mapas de disco completo, com defeitos classificados e saída de dados accionáveis Reduz a dependência de tecnologias de inspeção fora de linha (AFM, SEM, TEM, etc.), resultando numa redução do custo global de propriedade Disponível numa configuração manual (7110) ou totalmente automatizada (7140)

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