O aparelho de teste nanomecânico universal NanoFlip possui um movimento XYZ de alta precisão para posicionar a amostra para teste e um mecanismo de inversão para posicionar a amostra para obtenção de imagens. O software InView vem com um conjunto de métodos de teste que cobrem uma gama de protocolos de teste e também permite aos utilizadores criar os seus próprios métodos de teste inovadores. O atuador InForce 50 funciona igualmente bem em condições de vácuo e ambiente. As imagens do SEM ou de outro microscópio podem ser registadas pelo software InView e sincronizadas com os dados do ensaio mecânico. A revolucionária tecnologia FIB-to-Test permite inclinar a amostra 90°, permitindo uma transição perfeita do teste FIB para o teste de indentação sem ter de remover a amostra.
- Grande conjunto de métodos de ensaio nanomecânicos pré-programados para maior facilidade de utilização
- Atuador InForce 50 para medição do deslocamento da capacitância e atuação da força electromagnética com pontas intercambiáveis
- Controlador eletrónico de alta velocidade InQuest com taxa de aquisição de dados de 100kHz e constante de tempo de 20µs
- Sistema de movimento XYZ para seleção de amostras
- Captura de vídeo SEM para imagens SEM sincronizadas com dados de teste
- Sistema único de calibração de pontas integrado no software para uma calibração rápida e exacta das pontas
- Software de controlo e revisão de dados InView com compatibilidade com Windows ®10 e programador de métodos para experiências concebidas pelo utilizador
Aplicações
- Medições de dureza e módulo (Oliver-Pharr)
- Medição contínua da rigidez
- Mapas de propriedades de materiais a alta velocidade
- Ensaios de dureza ISO 14577
- Análise mecânica nano dinâmica (DMA)
- Ensaio quantitativo de riscos e desgaste
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