Sistema de preparação de amostras de polímeros EM TIC 3X
para SEM

Sistema de preparação de amostras de polímeros - EM TIC 3X - Leica Microsystems GmbH - para SEM
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Características

Aplicações
de polímeros, para SEM

Descrição

A versão atualizada do EM TIC 3X baseia-se em nosso lema ‘com o cliente, pelo cliente’ na combinação do desempenho e flexibilidade de maneira praticamente relevante. A taxa de fresamento dobrada do EM TIC 3X mais recente pode ser aperfeiçoada com a opção de cinco estágios diferentes adaptados às suas especificações de aplicação.

Catálogos

Leica EM TIC 3X
Leica EM TIC 3X
16 Páginas
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 Páginas
Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 Páginas
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.