Sistema de preparação de amostras EM RES102

Afine, limpe, dê polimento, faça cortes oblíquos e estruture as amostras com o mais alto nível de flexibilidade no Leica EM RES102. O exclusivo sistema de pulverização por feixe de íons combina a preparação de amostras de TEM, SEM e LM em uma única bancada. Uma variedade de porta-amostras possibilita a realização de uma ampla diversidade de aplicações. Além da pulverização por feixe de íons de alta energia, o Leica EM RES102 também pode ser usado para o processamento muito delicado de amostras usando baixa energia de íons.